Dieses Kapitel ist in folgende Gruppen aufgeteilt:

•Timeout Test-Funktion

•Digital Out

•Digital TTL

•Digital In

•Digital In Counter

•Analog In

•Analog Out

•Temp

•Grafische Darstellung

•CAN Runtime Parameter

•Puls Generator

•PWM Out

•Watchdoch Schaltverhalten

 

Im I/O Bereich können Tests an den Modulen vorgenommen werden.